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Kett 膜厚計

Kett 膜厚計

LZ-990
日本KETT LZ-990雙功能膜厚計,具中文、英文、日文及韓文等語言操作介面。秉持日本KETT「◎」圓形設計概念,同時擁有電磁式膜厚計與渦電流膜厚計雙重功能,並且自動判別基材是否具導磁性功能。

型號

LZ-990

測定方式

電磁誘導/渦電流兩用式(具自動判別機能)

測定對象

磁性金屬上的非磁性被膜及非磁性金屬上的絕緣被膜

測定範圍

0~2000um80.0mils

測定精度

50um以內:±1um50um1000um±2%

1000um以上:±3%

最小顯示

100um以內:0.1um100um以上:1um

資料記憶數

1000

檢量線記憶

16條檢量曲線記憶(電磁式8條;渦電流式8條)

顯示方式

背光式LCD數值顯示,最小讀值0.1um

操作語言

具中文、日文、英文及韓文四種供切換

外部輸出

USB傳輸個人電腦或RS-232C傳輸專用印表機

電源

4號鹼性電池1.5V x 2

電池壽命

60小時(背光關閉,連續使用)

使用環境

0~40℃

操作功能

檢量線記憶、測定資料記憶、資料查閱及刪除、資料輸出、批量區分、自動節電關機、日期時間設定、上下限設定、統計計算、背光設定、單位設定等各種功能共15

尺寸重量

82(W)x99.5(D)x32(H)mm,約160g

附屬品

校正用標準片3片,鐵/鋁素材組,手套環,高級攜帶包,鹼性電池2個,操作手冊

選購附件

校正標準片,膜厚測定台LW-990,專用印表機VZ-330,印表紙,資料傳輸軟體LDL-01,資料傳輸線